SPring-8の放射光X線を用いて、無機・有機材料の表面・界面・薄膜の三次元構造を1原子層・分子層から精密に決定します。
シーズの特徴（成果含む）
- 微小角入射X線回折法、基板と薄膜層との干渉を利用するCTR(Crystal Truncation Rod)散乱法などの手法により、薄膜およびその表面・界面の構造を三次元的に決定できます。
- 1原子層、1分子層の厚さの極薄膜から解析可能です。
- 大気中はもちろん、真空中・水溶液中など、各種環境下の試料に対応できます。
アウトカム
薄膜構造を使う材料・デバイス
知財等関連情報
1) 高橋正光、表面技術59, 848 (2008).
2) M Takahasi et al., J. Phys.: Condens. Matter 22, 474002 (2010).
3) 高橋正光、表面科学33, 507 (2012).
アウトカムに至る段階
基礎
連携希望企業
材料メーカー・素材メーカー
担当者
量子ビーム科学部門
関西光科学研究所放射光科学研究センターコヒーレントX線利用研究グループ
佐々木 拓生