放射光メスバウアー分光による
磁性薄膜の局所磁性探査

スピントロニクス等の磁性薄膜に高輝度放射光メスバウアーγ線を照射して、スペクトルを測定することで、機能発現部の舞台となる表面・界面を局所磁性探査する。

シーズの特徴(成果含む)

  • 放射光メスバウアーγ線で機能磁性薄膜を1原子層単位で局所解析できます。
  • 超高真空中で製膜した試料を低温、高温でその場解析できます。
  • 電場などの外場印可時の素子の作動状態での磁性を調べることができます。
放射光メスバウアー分光による磁性薄膜の局所磁性探査

アウトカム

スピントロニクス材料、高機能磁性材料

 

知財等関連情報

T. Mitsui et al., Phys. Soc. Jpn. 85, (2016) 063601.
T. Mitsui et al., J. Synchrotron Rad. 19, (2012) 198.

 

アウトカムに至る段階

応用段階

連携希望企業

電子機器メーカー

担当者

量子ビーム科学部門
関西光科学研究所放射光科学研究センター磁性材料研究グループ
三井 隆也