第3回QST播磨・機械学習研究会
X線吸収分光とX線回折における数理的解析「計測インフォマティクス」の取り組み
| 講演者 | 石井 真史 （国立研究開発法人物質・材料研究機構(NIMS)） |
|---|---|
| 職位 | グループリーダー |
| 場所 | 放射光物性研究棟付属建家「萌光館」大会議室 |
| 日時 | 2月2日（金曜日）14時00分～ |
| 使用言語 | 日本語 |
X線吸収分光とX線回折における数理的解析「計測インフォマティクス」の取り組み
要旨
材料開発において情報科学に基づく処理を活用する、マテリアルズ・インフォマティクスが注目される中で、計測においても同様なアイディアを導入する「計測インフォマティクス」を進めている。その狙いは、数理的に確からしいことを使ったモデルフリーな解析、各種スペクトルの特徴量を抽出することによる効率的な成分分離、過去の情報や参照データを利用するデータの客観解析、など多岐にわたり、放射光施設でも多くの実験に影響を与える可能性があると思われる。本講演では、代表的かつ一般的な二手法、X線吸収分光とX線回折を具体例として、数理的な考察の計測への展開を紹介する。