軟X線ナノ光電子分光ビームライン/Nano angle-resolved photoemission spectroscopy beamline
軟X線ナノ光電子分光ビームラインは、エンドステーションとして高性能の軟X線角度分解光電子分光測定装置(Angle-Resolved Photoemission Spectroscopy: ARPES)を整備します。百ナノメートルまで絞った軟X線ビームにより、物質の極微小な領域にのみ存在する新しい電子状態の物質を探し出す、デバイス中のナノ空間に閉じ込められた電子の特殊な状態を明らかにする、場所によって異なる動きをしている電子の分布を描き出すことが可能になります。
BL06U at NanoTerasu is the beamline for angle-resolved photoemission spectroscopy (ARPES) with a nano-focused beam (nano-ARPES). Soft X-ray in the energy range of 50–1,000 eV is available with various polarizations (linear horizontal and vertical, and left and right circular) as incident beam.A micro-ARPES station, where versatile ARPES experiments with a spot size of 10 µm are possible, is open for public users since March 2025.
(Learm more: Horiba et.al.; J. Phy.: Conf. Ser. 2380(1) 012034-012034 (2022))
Main parameters of beamline monochoromator
| Insertion device | APPLE-II-EUV (detail) |
| Energy range | 50—1000 eV (Linear, circular polarization) |
| Resolving Power (E/ΔE) | >50000 @65eV |
| flux on sample | >1011 phtons/sec |
Table: Parameters of designed monolithic Wolter type-I mirrors for post-focusing optics of nano-ARPES beamline.
Micro-ARPES station (B-branch)
Main parameters of microARPES
| Electron anaryzer | SCIENTA Omicron R4000 |
| Sample manipulator | （x, y, z, θ, Tilt, Azimuth） |
| Sample temperature | 15K—RT |
| Surface treatment | Cleavaging, Annealing (up to 870 K) |
| Beam size on sample | 10 μm（V） × 10 μm（H） |
お問い合わせ
- BL06Uについて
量子科学技術研究開発機構 NanoTerasuセンター ビームライングループ
北村未歩 kitamura.miho[at]qst.go.jp
- 共用ビームラインの利用については、こちら(Proposal Application)
