2019年度日本分析化学会技術功績賞を受賞
投稿日:2019年9月18日
放射光を用いた高エネルギーX線光電子分光法(XPS)による非破壊深さ方向分析法の開発、分子イオンを用いた二次イオン質量分析法(SIMS)による二次イオン放出効率の向上などをはじめとする、量子ビームを利用した表面ナノ領域における解析技術の高度化と普及にかかる業績により、山本副所長が2019年度日本分析化学会技術功績賞を受賞致しました。
東海量子ビーム応用研究センター
投稿日:2019年9月18日
放射光を用いた高エネルギーX線光電子分光法(XPS)による非破壊深さ方向分析法の開発、分子イオンを用いた二次イオン質量分析法(SIMS)による二次イオン放出効率の向上などをはじめとする、量子ビームを利用した表面ナノ領域における解析技術の高度化と普及にかかる業績により、山本副所長が2019年度日本分析化学会技術功績賞を受賞致しました。