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陽電子ビーム研究開発グループ

共同研究・施設供用

掲載日:2023年9月14日更新
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共同研究・施設供用

当機構では施設共用制度を開始しました。これにより、当機構が開発した研究設備を外部の研究開発者に随時ご利用いただくことができます。当方の陽電子に関する技術をご利用になりたい方はご相談下さい。(ただし、設備の稼動状況と内容によっては応じかねる場合もございますので、予めご了承下さい)また、産学官連携強化の一環として、研究プロジェクトのメンバーと外部の研究者の間で共同研究を行うことができます。当方の陽電子技術を用いた共同研究にご興味のある方はご相談下さい。

共同研究の概要

機構との間に共同研究契約を締結し、所定の研究計画に基づき共同研究を実施します。大学、公的研究機関、民間企業が対象となります。詳しくはお問い合わせください。

使用可能な設備(利用料金は別途お問い合わせください)

(1) 普及型陽電子消滅測定装置
Na-22線源を同一とみなせる二枚の試料で挟み込むことで、陽電子寿命測定と陽電子消滅ドップラー拡がり測定が可能。これにより、バルク材料中の空孔型欠陥を検出。測定に際しては、7 × 7mm~10 × 10mmの試料面積、0.5mm程度以上の試料厚さが必要。測定時間は、1検体当たり数時間~1日程度。 
(2) 低エネルギー可変低速陽電子ビーム装置
エネルギー0.1~30keVの連続陽電子ビームまたは1~15keVのパルス陽電子ビーム。陽電子消滅ドップラー拡がり測定、及び、陽電子寿命測定が可能。これにより、材料表面層や薄膜材料中の空孔型欠陥を検出。測定に際しては、10 × 10mm程度の試料面積が必要。測定時間は、ドップラー拡がりの深さ分布測定の場合は1検体当たり1日程度、陽電子寿命測定の場合は1つの打ち込みエネルギー当たり1日程度。

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